検図・検証作業の高品質化、効率化を実現

CR-8000 / CR-5000 の実行環境に依存せずに Design Force, Board Designer, DFM Center などのデータを扱えます。

DRC や EMC Adviser などのチェッカーの結果を表示できるため、目視のみに比べて精度の高い検図が可能です。

表示系、参照系、操作性、外部ツール連携など、あらゆる方面での機能の充実により、検図・検証の高効率化が図れます。