図研は、来る11月17日(水)から19日(金)までパシフィコ横浜にて開催される「ET & IoT 2021」において、JIEP / バウンダリスキャン研究会ブース内に出展します。
近年継続的に、同展のユニバーシティパビリオンにて当社の回路設計環境 CR-8000 Design Gateway と、各社のJTAGツールとの連携によるテスト容易化設計ソリューションをご案内してきましたが、2年振りのリアル開催となる今回は、バウンダリスキャンテストに加え、AOIやインサーキットテスタ、ファンクションテスタなどのテスタ全体とCADツールとの連携についてもご紹介します。
また、これ以外にも幅広いソリューションをご覧いただきます。詳細は以下をご確認ください。
ぜひ、同展 JIEP / バウンダリスキャン研究会ブースにお越しください。
| 展示会名 | ET & IoT 2021 |
|---|---|
| 日時 | 2021年 11月17日(水)～19日(金) 10:00～17:00（今回は3日間共通です） |
| 会場 | パシフィコ横浜 |
| 小間情報 | CM15｜University Pavilion （JIEP / バウンダリスキャン研究会：愛媛大学、アンドールシステムサポート、図研） |
| 内容 | ●CR-8000 と JTAG ProVision とを連携させたテスト容易化設計ソリューション ●各種テスタとCADとの連携 ●組込み業界に効果のあるエレクトロニクス3Dプリンタ "FPM-Trinity" ●トリリオンノードエンジン "Leafony" ●インテル社との協調（同社製品のリファレンス回路提供や、回路レビューサービスへの対応）など |
| 入場料 | 事前Web登録により無料 |
| 主催 | 一般社団法人 組込みシステム技術協会 |
| 公式サイト | https://www.jasa.or.jp/expo/ |