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図研ベテランSEによる
知って得する機能解説 -BD編-
2008.05.29
【テストポイント機能の概要、全体像】
今回、「ボードテスト」用の「検査用データ」を作成する機能、「テストポイント機能」をご紹介。
まずは、「テストポイント機能」の概要、全体像をご紹介します。
「テストポイント」(=プローブピンを当てる場所)の発生対象は「テスタ」により、穴の無いランド、穴のあるランド(ビア)、表面実装部品のランド、挿入部品のランドと様々です。
- 本機能では、「テスタ」に合った発生対象を、「テストポイント」にできます。この際、発生対象を、径が○○以上のランド、(CAD運用上)特定名称のビアとすることも可能です。
- 「テストポイント」の発生は、領域選択による一括発生、個別選択による個別発生が可能です。
- 発生した「テストポイント」情報は、「テスタ」用の「テストポイント・レポート」を作成できます。「テストポイント・レポート」は、一般的に必要な情報をまとめて出力できますので、複数のリストを別途合成するなどの手間が不要です。
あわせて、発生に不足が無いかなどのチェックも行えます。
【テストポイント発生時の発生制約】
「テストポイント」の発生対象を選択できることは、先に説明しました。
ただ、実際には、発生位置に制約やノウハウがあります。
- 部品、基板の形状などの問題から、「プローブピン」が当てられない箇所がある。
- 特に「治具有りテスタ」の場合、「テストポイント」の間隔は、「プローブピン」同士が干渉しないように十分な間隔が必要になる。
- 表面実装部品ランドに当てる場合、 「プローブピン」を当てやすい箇所がノウハウとして決まっている。
このような制約、ノウハウを加味し、「テストポイント」を発生可能です。
これは、後工程のデータ修正の手間削減、「治具」の作成ミスの防止につながります。