Posts in category: 試作基板のデバッグとテストの改善策
第4回 テスト範囲を最大化する「DFTサイクル」とは
第4回 テスト範囲を最大化する「DFTサイクル」とは

試作基板のデバッグとテストの改善策

 

回路図の色は何を意味しているかわかりますか?

回路図のFPGAのI/Oピンにマーキングされた色は、何を意味しているか分かりますか?
これはデザインルールチェックの結果ではありません。回路設計者の方は、「製品の性能」や「製造コスト」などを考えながら回路設計を行っているかと思いますが、もう1つ重要な考慮すべきポイントがあり、その内容が (続きを読む…)

,

2020年7月2日
第3回 試作基板のデバッグで困らない。<br />テスト容易化設計の5つのポイント<br />
第3回 試作基板のデバッグで困らない。
テスト容易化設計の5つのポイント

試作基板のデバッグとテストの改善策

 

試作BGA基板6枚中3枚に不具合が発生。どのように解決しますか?

写真1をご覧ください。この試作基板には、BGA部品が2つ実装されていて、FPGAとDDRメモリが使われています。順調に開発が進んでいるかと思ったその時、DDRメモリのデータが化けることが分かりました。それも、試作基板を6枚製造して、3枚に不具合が (続きを読む…)

,

2020年5月21日
第2回 BGAのはんだ不良を見つける。本来のJTAGとは?<br />
第2回 BGAのはんだ不良を見つける。本来のJTAGとは?

試作基板のデバッグとテストの改善策

「.ccfファイル」から基板テスト用のデータが自動生成できることを知っていますか?

「JTAG(ジェイタグ)」という言葉を聞いたことがあると思います。ソフトウェアエンジニアにとっては、Armマイコンのソフトウェア開発用 「JTAG ICE(デバッグプローブ)」が身近でしょうし、ハードウェアエンジニアは恐らく、「FPGAやフラッシュメモリの書き込み」のJTAGを思い浮かべるでしょう。

 

Arm社のJTAG ICE(デバッグプローブ)

写真1.Arm社のJTAG ICE(デバッグプローブ)

 

しかし本来、JTAGはデバッグや書き込み用だけに使うものではありませ (続きを読む…)

,

2020年4月23日
第1回 試作基板のBGA部品が動かない!?<br />
第1回 試作基板のBGA部品が動かない!?

試作基板のデバッグとテストの改善策

 

突然ですが、なんの写真か分かりますか?

はじめまして、「Club-Z」で連載を担当させていただきますアンドールシステムサポートの谷口です。こちらのコラムでは、試作基板のデバッグやテストにおける課題と解決策についてお話ししたいと思います。少しでも皆さまの業務を見直すきっかけにしていただけると嬉しいです。

早速ですが、写真1は3次元X線の画像です。これが、何を示しているか分かり (続きを読む…)

,

2020年3月26日