JIEP ボードテスト技術研究会 公開研究会 『競争力のあるものづくり』

エレクトロニクス実装学会(JIEP)傘下のボードテスト技術研究会の主催により、年次の公開研究会が行われ、その中で図研よりDFT(Design for Testability)について講演します。

公開研究会全体では、研究機関、検査装置メーカ、検査部門、CADベンダの関係者が一堂に会し、小発表とパネル討論を通じて情報交換を行います。また、図研より講演するDFTに関しては、ボードテストを取り巻く課題と全体効率の向上につながる設計時に配慮すべき点についてお話しします。日頃、ボード検査で課題を抱えている皆様の参加をお待ちしています。